IEEE文献求帮忙下载

lijie5992373 · 发表于 2020-11-6 12:48:37

求帮忙下载： Data Mining for Optimizing IC Feature Designs to Enhance Overall Wafer Effectiveness

Published in: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing ( Volume: 27, Issue: 1, Feb. 2014)

LUSR · 发表于 2020-11-6 12:48:38

好了

lijie5992373 · 发表于 2020-11-6 14:59:51

有没有好心人帮我下载下，谢谢了

lijie5992373 · 发表于 2020-11-9 08:58:08

LUSR 发表于 2020-11-6 12:48
好了

多谢！！

xiaofuss_ · 发表于 2020-11-9 09:29:03

感谢

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