运放差分对版图是源漏共用画匹配好，还是拆开画好？

微笑向暖 · 发表于 2020-7-27 14:56:11

我认为还是和你用的制程有一定关系，在40nm以下的工艺节点对WPE，STI效应更care，如果对敏感电路而言，我感觉共用是更好的，对STI效应的影响会小一些，，40nm以上的工艺节点对这些效应不是那么care，我们可以选择不共用，在保证需要匹配的管子的对称轴能够重合更好，这样梯度效应的影响会小一些

CR7LIN · 发表于 2021-8-25 11:27:01

合并可以抵消有源区倾角注入的误差，缺点是dummy不能合并，这样poly的工艺环境不一致了

MrHlayout · 发表于 2021-8-25 14:03:36

看你匹配要求了，如果精度要求很高，拆开不共源是最好的匹配,原因就是分到每个s,d上的电流都很均匀，两端受到应力效应的影响也都是一样的，最外面再加上dum,完美

chrisliangh · 发表于 2021-9-1 13:47:10

对于大工艺来说都一样，用M的方式做可能性能会略好，但是对于小工艺来讲，对于各种效应的影响会很明显，如果用M的方式做中间还要插POLY dummy，不仅增加了面积，还降低了匹配性，用finger的方式去做显然更合适，dummy的话就可以是四端都接在一起了，也可以把G端接到电流镜做一个电容。

fumes · 发表于 2021-9-2 10:02:16

chrisliangh 发表于 2021-9-1 13:47
对于大工艺来说都一样，用M的方式做可能性能会略好，但是对于小工艺来讲，对于各种效应的影响会很明显，如 ...

0.18um的算大工艺还是小工艺？

chrisliangh · 发表于 2021-9-8 09:07:53

fumes 发表于 2021-9-2 10:02
0.18um的算大工艺还是小工艺？

.18当然是大工艺了

YOUNG_GLEAM · 发表于 2022-11-15 16:33:32

学习

notgod0628 · 发表于 2023-6-15 16:46:20

40以下建议合并，不然寄生，sti效应影响明显

Lcy_001 · 发表于 2023-6-15 17:02:47

学习下

young_82 · 发表于 2023-6-16 10:25:57

学习了

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