设为首页收藏本站

在线咨询切换到宽版

eetop公众号

创芯大讲堂

创芯人才网

快捷导航

搜帖子

EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 芯片可测试性设计与ATPG

12 3 / 3 页下一页

返回列表发新帖

查看: 6831|回复: 24

[资料] 芯片可测试性设计与ATPG

发表于 2019-10-17 10:55:04 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册，结交更多好友，享用更多功能，让你轻松玩转社区。

您需要登录才可以下载或查看，没有账号？注册

×

芯片可测试性设计与ATPG: 74页PPT

Fault Model

DFT

ATPG

ATE

可测试性设计与ATPG.pdf

2.81 MB, 下载次数: 314 , 下载积分: 资产 -1 信元, 下载支出 1 信元

芯片可测试性设计与ATPG: 74页PPT

回复

发表于 2019-10-17 11:05:47 | 显示全部楼层

好东西

回复支持反对

发表于 2019-10-17 11:08:03 | 显示全部楼层

很好的资料，有完整的整套吗？

回复支持反对

发表于 2019-10-17 19:53:37 | 显示全部楼层

kan kan

回复支持反对

发表于 2019-10-21 15:39:13 | 显示全部楼层

学习下，看看是什么东西。

回复支持反对

发表于 2019-10-27 02:21:20 | 显示全部楼层

Thanks for sharing

回复支持反对

发表于 2019-11-5 23:46:57 | 显示全部楼层

谢谢分享！！！！

回复支持反对

发表于 2019-11-20 21:11:27 | 显示全部楼层

感谢！！！

回复支持反对

发表于 2020-1-10 12:26:47 | 显示全部楼层

thank you a lot

回复支持反对

发表于 2020-1-29 22:51:02 | 显示全部楼层

不错呀

回复支持反对

12 3 / 3 页下一页

返回列表发新帖

手机版| 小黑屋| 关于我们| 联系我们| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2025-5-24 20:09 , Processed in 0.168513 second(s), 6 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号

创芯大讲堂

创芯人才网

快速回复 返回顶部 返回列表