【求助】扫描链中ScanEnable、ScanDataIn、ScanDataOut如何复用其他信号？

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由于是测试芯片，管脚紧张，现在扫描链的SE、SI、SO信号都打算与其他信号复用。但是在DC中只找到了复用SI和SO，通过SE信号做为多路选择。现在问题是SE信号也需要复用。求助各位，应该如何设置脚本。或者是修改RTL？

kk2009

SE当然也是可以复用的，这个不是跟SI/SO一样设置吗？
但是注意，test mode要么是单独的pin，要么就是通过pattern产生，当test mode 有效时，复用的管脚就是SI/SE/SO。

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kk2009 发表于 2019-10-17 06:36
SE当然也是可以复用的，这个不是跟SI/SO一样设置吗？
但是注意，test mode要么是单独的pin，要么就是通过pa ...

感谢回复！具体情况是，我首先对整个SOC进行了扫描综合然后设置dont_touch，现在需要加PAD，但是PAD数量有限。然后在SOC层外部包了一层逻辑，主要是复用信号到PAD，扫描链相关的信号和其他信号通过work_mode【1:0】做为选择和其他端口复用一个PAD。问题是：现在产生测试激励不知道该怎么做，因为原来的扫描端口都指定在内部的SOC层了。
还有一种办法是，先不对SOC层做扫描综合，将SOC层和外面的复用逻辑一起综合。但是插入扫描链的话，有一个问题，如果通过work_mode【1:0】信号去复用扫描链相关的信号不知道该如何实现。具体的应该说是脚本上如何实现。目前只找到了通过SE信号去复用SI和SO。

kk2009

其实work_mode[1:0]就是我说的test mode。比如work_mode[1:0]为2‘b11时，做scan。
将decoder work_mode的信号定义为 test mode，其他的跟用SE信号去复用一样。