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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › ic 测试原理

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楼主: liaochubiao

ic 测试原理

发表于 2008-3-3 17:19:05 | 显示全部楼层

一般，不太实用

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发表于 2008-3-4 09:31:42 | 显示全部楼层

先顶一下了

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发表于 2008-3-4 22:28:21 | 显示全部楼层

不错，看看先

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发表于 2008-3-5 09:22:45 | 显示全部楼层

顶而下之

//faint, an 80s book. If you're an engineer in 21st century, ignore it.

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发表于 2008-3-8 17:23:15 | 显示全部楼层

this paper seen to be download,

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发表于 2008-3-15 22:48:07 | 显示全部楼层

谢谢~看看先

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发表于 2008-3-16 15:41:10 | 显示全部楼层

thanks

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发表于 2008-3-18 04:12:45 | 显示全部楼层

谢谢。。。。。。

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发表于 2008-3-18 13:27:12 | 显示全部楼层

看看，希望还可以3

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发表于 2008-3-19 00:04:46 | 显示全部楼层

Dowload it and 3S

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