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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 数字系统测试和可测试性设计_（美）
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楼主: zylxzxcyz

[资料] 数字系统测试和可测试性设计_（美）

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kclchang
发表于 2021-11-23 10:44:16 | 显示全部楼层
非常感谢
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胡兵
发表于 2021-11-25 15:49:11 | 显示全部楼层
还是打不开啊  
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sjzyt
发表于 2021-11-29 14:35:49 | 显示全部楼层
多谢，很好的资源，现在在弄boundary scan
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caoluming
发表于 2021-11-30 11:01:36 | 显示全部楼层
马一下
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发表于 2021-11-30 12:14:58 | 显示全部楼层
very good!!!  excellent professional classical datas!!!  thanks for your sharing!!!
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Float-jill
发表于 2021-12-2 14:40:30 | 显示全部楼层
感谢分享
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Float-jill
发表于 2021-12-2 14:43:06 | 显示全部楼层
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Float-jill
发表于 2021-12-2 14:43:55 | 显示全部楼层
顶一下:D:D
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Float-jill
发表于 2021-12-2 14:45:07 | 显示全部楼层
:D:D:D:D:D:D:D:D:D:D:D
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Float-jill
发表于 2021-12-2 14:46:28 | 显示全部楼层
:D:D:D:D:D
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