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[求助] SRAM型FPGA做ESD放电试验时会不会发生类似单粒子效应的配置存储器的翻转

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发表于 2017-10-18 15:20:47 | 显示全部楼层 |阅读模式

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如果对SRAM型FPGA 进行ESD试验,仅通过空气放电,不对引脚放电,电磁脉冲能否像单粒子一样使配置存储器(Configuration Memory)发生翻转呢?比如用ESD发生器做试验,用±15KV对市面上FPGA进行空气放电~


希望大家给点意见,集思广益。
发表于 2017-10-19 09:28:01 | 显示全部楼层
理论上应该是高能粒子才能使SRAM翻转,高电压的ESD只能击穿PAD esd电路
 楼主| 发表于 2017-10-19 13:03:08 | 显示全部楼层
回复 2# whz7783478


   谢谢回复,就是不知道ESD的电场脉冲能不能影响到SRAM里面的MOS单元。
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