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楼主: 宴雨淋淅

[求助] Layout中ESD,SAB层次覆盖住I/O的驱动级MOS是否降低其驱动强度?

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发表于 2018-2-7 15:00:19 | 显示全部楼层
顶下楼主先,有没有高手知道答案的
发表于 2018-2-7 22:19:32 | 显示全部楼层
我想是因为,MOS管整体做了SAB,那么相当于S,D,G都串入了一个电阻。
发表于 2019-11-29 12:29:17 | 显示全部楼层
N管漏级注入SAB,那么就相当于注入SAB的区域称变成了rnplus_sab,根据方阻可以计算出这一区域的阻值。栅注入SAB和P管源漏注入SAB同理。
发表于 2022-3-5 11:21:12 | 显示全部楼层


   
宴雨淋淅 发表于 2017-12-28 17:55
回复 9# chenqiao1122


SALICIDE这一层一般用在高值电阻与ESD器件上,即多晶硅块区域没有覆盖在上面,添加了SAB层的器件的区域电阻值就会抬高,可以看成是一个薄的高值注入层,为增大单位面积POLY电阻阻值和ESD的耐压等特性作出了贡献,但是如果加在了驱动管子的上面会对管子的VTH有影响,因为加大了BODY电阻,仿真响应时间也会延长。
发表于 2024-10-24 14:39:02 | 显示全部楼层


   
宴雨淋淅 发表于 2017-12-28 17:55
回复 9# chenqiao1122


很好的帖子,不知楼主现在想明白没?
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