帮忙下两篇文献

lihaiqi208 · 发表于 2017-4-17 00:53:30

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N. Wils, H. P. Tuinhout, and M. Meijer, “Characterization of STI edge effects on CMOS Variability”
H. P. Tuinhout, A. Bretveld, and W. C. M. Peters, “Measuring the span of stress asymmetries on high-precision matched devices,”

Chaumont · 发表于 2017-4-17 08:34:48

Measuring the span of stress asymmetries on high-precision matched devices.pdf (432.01 KB , 下载次数: 1 ) 回复 1# lihaiqi208

lihaiqi208 · 发表于 2017-4-17 23:19:47

回复 2# Chaumont
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