芯片dft测试时，生成两个pattern对应失效点不一致

jazzlxl

[求助]芯片dft测试时，生成两个pattern对应失效点不一致


pattern1失效的有一些用pattern2再测时候pass了
同时也有pattern1 pass的用pattern2再测时候fail了

eeares

首先你需要说明下pattern1/2之间的差别是什么，target的fault是否有不同。
按照我的理解，你的两个pattern target的fault是不同的，出现不同的结果也就不足为奇。