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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › ESD/EOS和latchup(芯片级) › ESD/EOS资料区 › SONY的QA手册，有详细的失效分析说明
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楼主: cocoqoo

[资料] SONY的QA手册，有详细的失效分析说明

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simufox
发表于 2022-11-2 19:01:30 | 显示全部楼层
Kan Kan
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xuleiwx1
发表于 2022-12-26 14:07:26 | 显示全部楼层
下载看看
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opqfeixue122
发表于 2023-12-11 13:50:34 | 显示全部楼层
感谢分享
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yesmyboy1
发表于 2023-12-19 17:51:28 | 显示全部楼层
谢谢分享
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ganjun2001
发表于 2024-2-16 14:02:09 | 显示全部楼层
:)
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pennyxm
发表于 2024-2-21 14:26:29 | 显示全部楼层
这个不错，挺全面的
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calviny83
发表于 2024-4-20 18:22:12 | 显示全部楼层
GOOD!
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hootasp
发表于 2024-4-29 14:01:17 | 显示全部楼层
:):):):)
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hijackerhaha
发表于 2024-6-3 17:38:31 | 显示全部楼层
不错，谢谢了
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发表于 2024-12-31 14:08:40 | 显示全部楼层
感谢，我也是想要的
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