IR-drop静态分析和动态分析的RC corner

jerry66666 · 发表于 2014-11-16 01:07:13

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请问，进行IR-drop分析时，静态分析和动态分析是不是要设不同的RC corner。看到某foundry 65nm的sign-off说明要求用动态分析+cworst进行IR-drop sign-off ，因此怀疑静态分析是不是应该用rcworst corner?请高人指点，谢谢。

icfbicfb · 发表于 2014-11-16 08:50:16

用typical corner或者ff corner ，

IC后端 · 发表于 2014-11-16 18:20:20

楼主指的是参数抽取时候是用C,还是RC

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