ESD测试的时候可能触发Latch-up吗？

sed · 发表于 2012-9-14 13:00:34

当然，这里讲latch-up可能不合适，真正的latch-up测试是指带电测试的，也就是说chip一直在供电，而ESD测试时chip不供电，不过从原理上讲无差异，都是走pnpn（SCR）的path；

szyacj · 发表于 2012-9-14 16:09:43

带电引起的Latch up和ESD zapping引起的Latch up对电路的破坏是一样的吗啊？如果带电的话，长时间大电流肯定会烧坏电路，那段时间的呢？是否会对电路造成不可逆的破坏？

feilongf91 · 发表于 2012-9-16 17:07:22

好像latch up是坏一片，esd一般坏的是管子

gaojun927 · 发表于 2012-9-19 13:43:03

应该有可能。ESD时流大电流，有可能触发周围寄生的scr结构，结果导致电流走非预料的路径产生失效。当然你也可以定义这种情况不叫latchup。

beifeng2006 · 发表于 2012-9-20 04:31:04

有可能

soldierxfm · 发表于 2012-10-17 17:01:46

esd 测试不带电，不会有latch-up 问题，如果esd器件遇到所谓的“latch“通路，电荷很容易泄放，hold 电压低，这是好事情。

szyacj · 发表于 2012-10-18 09:18:40

但是瞬间大量电荷泄放不会造成不可逆的损坏？

leorry · 发表于 2013-2-1 23:50:34

严格来讲，在单独ESD测试时不会引起latch up，因为ESD测试时，不管是什么模式，I/O或者Power/Ground Cell不是同时上电的，latch-up发生的基本条件之一是在Power恒定上电，Ground pin恒定接地状态才有发生。因此在测试ESD时这个条件不满足。但是如果在使用当中，Power/Ground都有满足条件，ESD发生可能会导致寄生的pnpn结构而引发latch-up。

nengtiansh · 发表于 2013-2-2 18:29:55

有点看不清问题，到底是不是问恒定上电情况下esd产生的问题

runtoking · 发表于 2013-3-6 23:37:18

严格来讲，在单独ESD测试时不会引起latch up，因为ESD测试时，不管是什么模式，I/O或者Power/Ground Cell不 ...
leorry 发表于 2013-2-1 23:50

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我也觉得是这样，解释得很清楚！

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