这位兄台,ATPG Scan可以生成.WGL Pattern,把这个pattern丢给专用软件就可以自动转成Target ATE format,而无需再通过NC生成VCD,这个软件一般是专门为ATE设计使用的。而对于你要测试的功能类pattern,似乎目前只能通过NC生成VCD再转,而且需要人为参与比较多,后期的调整是经常的。
I always use VTRAN to convert the WGL scan and VCD function pattern to any kind of ATE test platform, It is hard to write the PERL for the pattern conversion,