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楼主: zfeng1121

[资料] 分享一本好书,关于数字芯片测试和可测性设计的

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发表于 2019-9-24 11:56:24 | 显示全部楼层
看了这书才知道90年代美国人就开始研究可测试技术了,所以CAD软件中美有差距是正常的。
发表于 2019-12-8 09:33:26 | 显示全部楼层
Thanks.
发表于 2020-3-20 13:46:06 | 显示全部楼层
谢谢楼主,很有用~
发表于 2020-3-24 15:29:11 | 显示全部楼层
非常感谢
发表于 2020-4-8 16:39:34 | 显示全部楼层
Thanks for your kind sharing
发表于 2020-4-15 15:07:12 | 显示全部楼层
学习一下,谢谢
发表于 2021-1-30 21:30:54 | 显示全部楼层
多谢
发表于 2021-1-31 16:24:22 | 显示全部楼层
谢谢分享
发表于 2021-3-2 21:17:18 | 显示全部楼层
thanks
发表于 2022-2-28 22:19:53 | 显示全部楼层
非常感谢
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