设为首页 收藏本站
在线咨询 切换到宽版
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网

 找回密码
 注册

手机号码，快捷登录

手机号码，快捷登录

搜帖子
EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 讨论区 › 测试 dft
123
返回列表 发新帖
楼主: 257qxyuan

[原创] 测试 dft

[复制链接]
duanxindong
发表于 2016-4-20 14:38:05 | 显示全部楼层
DFT+test是生产测试，确保发货后产品是好的，如果覆盖率低，仍然比较大的可能性。
很少用生产测试测功能。 功能pattern到ATE可做测试，但成本控制问题。
测试链？ scanchain 或者testpanttern？
testpattern 压缩？
回复 支持 反对

举报

sunilrirt
发表于 2017-3-7 13:49:55 | 显示全部楼层
Thanks...
回复 支持 反对

举报

123
返回列表 发新帖
高级模式
B Color Image Link Quote Code Smilies
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

手机版| 小黑屋| 关于我们| 联系我们| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2025-6-8 23:36 , Processed in 0.107500 second(s), 4 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表