设为首页收藏本站

在线咨询切换到宽版

eetop公众号

创芯大讲堂

创芯人才网

快捷导航

搜帖子

EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › IDDQ测试技术及其实现方法

12 / 2 页

返回列表发新帖

楼主: gangersun

[资料] IDDQ测试技术及其实现方法

发表于 2018-7-14 20:08:21 | 显示全部楼层

kankan

回复支持反对

发表于 2018-7-31 09:52:13 | 显示全部楼层

下来看看

回复支持反对

发表于 2018-8-6 09:50:40 | 显示全部楼层

介绍了IDDQ测试原理，论文是99年的。谢谢楼主分享

回复支持反对

发表于 2018-8-15 18:00:57 | 显示全部楼层

顶顶顶顶顶多多多多多多

回复支持反对

发表于 2018-8-17 12:48:34 | 显示全部楼层

回复 1# gangersun

Thanks

回复支持反对

发表于 2018-8-17 12:49:46 | 显示全部楼层

回复 15# tatung1000

Thanks

回复支持反对

发表于 2018-8-26 00:19:51 | 显示全部楼层

thanks

回复支持反对

发表于 2018-9-6 14:37:27 | 显示全部楼层

Thanks for sharing

回复支持反对

发表于 2018-9-14 10:26:14 | 显示全部楼层

感謝您的分享~~^^

回复支持反对

12 / 2 页

返回列表发新帖

手机版| 小黑屋| 关于我们| 联系我们| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2025-6-7 14:21 , Processed in 0.140818 second(s), 5 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号

创芯大讲堂

创芯人才网

快速回复 返回顶部 返回列表