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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › IC test golden book

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楼主: lanli7

[资料] IC test golden book

发表于 2010-9-14 16:24:12 | 显示全部楼层

恩，不错。。

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发表于 2010-9-14 16:25:19 | 显示全部楼层

忘了说声谢谢了。。

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楼主| 发表于 2010-9-16 12:27:39 | 显示全部楼层

虽然是DFT的资料，但是对测试工程师同样重要。

diagnose_real_scan_chain_defects.pdf

372.79 KB, 下载次数: 17 , 下载积分: 资产 -1 信元, 下载支出 1 信元

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发表于 2010-10-24 21:46:02 | 显示全部楼层

谢谢啊。

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发表于 2010-10-26 08:51:03 | 显示全部楼层

顶顶顶顶顶顶顶顶

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发表于 2010-10-26 11:12:01 | 显示全部楼层

a document good, thanks

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发表于 2010-10-26 20:39:49 | 显示全部楼层

ddddddddddddddddddd

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发表于 2010-10-28 14:31:09 | 显示全部楼层

thanks for sharing

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发表于 2010-10-29 16:08:29 | 显示全部楼层

好东西啊，thanks

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发表于 2010-10-29 16:11:10 | 显示全部楼层

回复 21# blueinspur

thanks 啊

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