在线咨询 切换到宽版
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网

 找回密码
 注册

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

搜帖子
楼主: netghost

[原创] High Performance Memory Testing Design Principles, Fault Modeling and Self-Test

[复制链接]
发表于 2010-2-18 11:17:28 | 显示全部楼层
thanks
发表于 2010-2-19 19:35:49 | 显示全部楼层
thanks for sharing, it is a good book!
发表于 2010-2-20 19:55:31 | 显示全部楼层
thanks for sharing
发表于 2010-3-22 14:13:07 | 显示全部楼层
good, thanks.
发表于 2010-3-22 14:43:10 | 显示全部楼层
good, thanks.
发表于 2010-3-22 15:02:44 | 显示全部楼层
good, thanks.
发表于 2010-5-14 15:20:55 | 显示全部楼层
thanks
发表于 2010-5-14 15:22:14 | 显示全部楼层
thanks
发表于 2010-11-19 06:58:28 | 显示全部楼层
thanks
发表于 2010-12-3 13:02:08 | 显示全部楼层
good article
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

手机版| 小黑屋| 关于我们| 联系我们| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2025-5-29 03:26 , Processed in 0.085176 second(s), 3 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表