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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › IC CP test资料

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楼主: geffice

IC CP test资料

发表于 2013-1-18 14:29:30 | 显示全部楼层

看看呢

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发表于 2016-3-11 14:04:37 | 显示全部楼层

回复 1# geffice

谢谢分享。

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发表于 2016-3-12 22:59:49 | 显示全部楼层

感謝大大的分享
趕快下載來閱讀

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发表于 2016-4-1 22:10:30 | 显示全部楼层

学习一下，谢谢分享！

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发表于 2016-9-20 15:00:54 | 显示全部楼层

学习一下，谢谢分享！！！

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发表于 2016-10-21 16:43:44 | 显示全部楼层

IC CP test资料
主要有continuous，OPEN/SHORT, Leakage current，Drive capacity 等参数测试

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发表于 2018-9-6 18:38:33 | 显示全部楼层

Thanks for sharing

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发表于 2018-9-14 09:49:37 | 显示全部楼层

好壓~~感謝分享

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发表于 2018-11-18 23:10:24 | 显示全部楼层

学习学习

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发表于 2021-3-12 15:33:11 | 显示全部楼层

是不是我想要的

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