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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 国外的一篇论文，关于mbist优化
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楼主: iyaowu

国外的一篇论文，关于mbist优化

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发表于 2010-3-15 23:57:38 | 显示全部楼层
thanks
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发表于 2010-3-17 15:33:30 | 显示全部楼层
take a look
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发表于 2010-3-21 17:33:02 | 显示全部楼层
简单清晰
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your87
发表于 2010-3-21 23:24:29 | 显示全部楼层
thanks
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发表于 2010-4-13 12:59:30 | 显示全部楼层
看看先
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发表于 2010-4-15 11:32:41 | 显示全部楼层
好东西就顶一下，呵呵呵
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发表于 2010-4-15 15:04:09 | 显示全部楼层
DING！
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发表于 2010-4-16 16:27:39 | 显示全部楼层
参考,借鉴
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发表于 2010-5-28 17:04:19 | 显示全部楼层
xiexie louzhufenxiang^
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HUGJIL
发表于 2010-5-28 19:23:32 | 显示全部楼层
福建还有收入
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