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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › test pattern

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楼主: hxyufei

test pattern

发表于 2012-8-6 18:40:06 | 显示全部楼层

谢谢楼住分享……

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发表于 2012-8-10 11:03:03 | 显示全部楼层

呃，好吧，这个是在ATPG之后的，先留着，没准往后有用。

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发表于 2013-8-13 20:18:19 | 显示全部楼层

GOOD 正需要呀

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发表于 2013-8-23 09:21:42 | 显示全部楼层

正好要用，多谢分享

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发表于 2013-9-6 15:15:30 | 显示全部楼层

學習學習～

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发表于 2013-12-3 15:57:29 | 显示全部楼层

看看内容再说

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nuerhachidetian

发表于 2013-12-9 13:34:19 | 显示全部楼层

看看什么东西

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发表于 2016-11-10 12:28:24 | 显示全部楼层

感谢分享。

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发表于 2016-11-19 00:49:27 | 显示全部楼层

Test Pattern Validation User Guide.pdf (2.73 MB)

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发表于 2017-12-15 15:35:19 | 显示全部楼层

谢楼主

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