在线咨询 切换到宽版
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网

 找回密码
 注册

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

搜帖子
楼主: dendrite

[高清晰版]VLSI Test Principles and Architectures Design for Testability

[复制链接]
发表于 2009-12-27 00:20:29 | 显示全部楼层
Yes! It's a clear version of eBook.
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2009-12-27 00:26:19 | 显示全部楼层
Content
1 Introduction
2 Design for Testability
3 Logic and Fault Simulation
4 Test Generation
5 Logic Built-In Self-Test
6 Test Compression
7 Logic Diagnosis
8 Memory Testing and Built-In Self-Test
9 Memory Diagnosis and Built-In Self-Repair
10 Boundary Scan and Core-Based Testing
11 Analog and Mixed-Signal Testing
12 Test Technology Trends in the Nanometer Age
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2009-12-31 11:22:08 | 显示全部楼层
thanks for sharing
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2010-1-3 14:12:37 | 显示全部楼层
XIEXIE~~~~~~~~~~~~~
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2010-1-4 14:48:56 | 显示全部楼层
学习 1# dendrite
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2010-1-4 19:44:12 | 显示全部楼层
多謝樓主!!!!!!!!
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2010-1-9 22:01:54 | 显示全部楼层
thanks a lot
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2010-1-12 15:12:10 | 显示全部楼层
jkk afdsewa
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2010-1-12 16:34:54 | 显示全部楼层
thanks.
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2010-1-13 21:57:58 | 显示全部楼层
谢谢分享!!!!!
回复 支持 反对

使用道具 举报

您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /1 下一条

X

手机版| 小黑屋| 关于我们| 联系我们| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2025-7-19 23:57 , Processed in 0.061918 second(s), 4 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表