设为首页收藏本站

在线咨询切换到宽版

eetop公众号

创芯大讲堂

创芯人才网

快捷导航

搜帖子

EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › ASIC可测试性设计技术-----中文资料

1 2 3 4 567 8 9 10 ... 30 / 30 页下一页

返回列表发新帖

楼主: daiwei88

ASIC可测试性设计技术-----中文资料

smileasmile2007

发表于 2009-9-28 09:37:52 | 显示全部楼层

下了不能不顶

回复支持反对

发表于 2009-9-28 11:15:07 | 显示全部楼层

thanks

why the check number is always is 18

回复支持反对

发表于 2009-9-28 16:36:42 | 显示全部楼层

wfjhiopfhwiopfhiofhiow

回复支持反对

发表于 2009-10-7 21:54:50 | 显示全部楼层

好东西，看看先，谢谢

回复支持反对

发表于 2009-10-8 21:28:34 | 显示全部楼层

thanks a lot

回复支持反对

发表于 2009-10-8 21:37:23 | 显示全部楼层

是中文的呢
非常有幫助 ! 謝 !

回复支持反对

发表于 2009-10-12 10:12:10 | 显示全部楼层

thansss

回复支持反对

发表于 2009-10-15 20:24:33 | 显示全部楼层

kankankankan

回复支持反对

发表于 2009-10-19 09:47:10 | 显示全部楼层

支持 1# daiwei88

回复支持反对

发表于 2009-10-28 17:42:13 | 显示全部楼层

中文的还是好东西！就是不知道翻译得如何？

回复支持反对

1 2 3 4 567 8 9 10 ... 30 / 30 页下一页

返回列表发新帖

手机版| 小黑屋| 关于我们| 联系我们| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2025-5-30 00:40 , Processed in 0.143372 second(s), 3 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号

创芯大讲堂

创芯人才网

快速回复 返回顶部 返回列表