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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › ASIC可测试性设计技术-----中文资料

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楼主: daiwei88

ASIC可测试性设计技术-----中文资料

smileasmile2007

发表于 2009-9-28 09:37:52 | 显示全部楼层

下了不能不顶

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发表于 2009-9-28 11:15:07 | 显示全部楼层

thanks

why the check number is always is 18

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发表于 2009-9-28 16:36:42 | 显示全部楼层

wfjhiopfhwiopfhiofhiow

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发表于 2009-10-7 21:54:50 | 显示全部楼层

好东西，看看先，谢谢

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发表于 2009-10-8 21:28:34 | 显示全部楼层

thanks a lot

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发表于 2009-10-8 21:37:23 | 显示全部楼层

是中文的呢
非常有幫助 ! 謝 !

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发表于 2009-10-12 10:12:10 | 显示全部楼层

thansss

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发表于 2009-10-15 20:24:33 | 显示全部楼层

kankankankan

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发表于 2009-10-19 09:47:10 | 显示全部楼层

支持 1# daiwei88

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发表于 2009-10-28 17:42:13 | 显示全部楼层

中文的还是好东西！就是不知道翻译得如何？

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