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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › IC测试原理解析
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楼主: galinyan

IC测试原理解析

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urbane
发表于 2009-8-3 13:01:16 | 显示全部楼层
good！
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发表于 2009-8-5 22:50:20 | 显示全部楼层
下来看看
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发表于 2009-8-26 04:36:44 | 显示全部楼层
谢谢搂主
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678king
发表于 2009-10-26 10:49:06 | 显示全部楼层
很好啊，不错啊。
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发表于 2009-10-26 14:36:15 | 显示全部楼层
看看！！！！！！！！！！！！
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apengge
发表于 2009-10-27 22:46:06 | 显示全部楼层
好东西，谢谢分享，希望自己能看完
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发表于 2009-10-29 21:05:13 | 显示全部楼层
是ATE方面的测试嘛？？？？
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dzhzjv
发表于 2010-2-10 23:30:04 | 显示全部楼层
好东西啊，谢谢啊
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发表于 2010-6-23 11:00:40 | 显示全部楼层
下载了，谢谢！
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发表于 2010-6-29 20:03:04 | 显示全部楼层
谢谢楼主分享
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