电路Aging老化仿真，HCI mode下发生老化，但是PBTI和NBTI下仿真没有发生老化

黛青青青

有大佬做过Aging仿真么？




我的仿真结果中，HCI mode是正常变化的，7年左右达到0.1的退化标准，
但是在PBTI mode和NBTI mode下仿真达到0.1的退化标准，得到的使用寿命是10e9年。



然后我单独仿真了PBTI mode和NBTI mode，发现在这两个模式下的电路不发生老化。
接着试了十个不同的管子，发现PBTI mode和NBTI mode下都未发生老化。




请问是我哪里设置错了还是mode本身有问题？


(公司的电脑不能截图，只能拍照)

dongbeidulang

搭楼问一下，图片里的仿真结果，最右侧的age，代表什么意思？文件里说是 age used in aging simulation.
指的是equivalent DC operating time ?

黛青青青

age指的是你模拟的几年老化的时长，比如3年、10年后MOS管的性能情况

nanke

应该是正常的，你可以看下对应的文档。