在线咨询 切换到宽版
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网

 找回密码
 注册

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

搜帖子
查看: 838|回复: 0

[求助] 集成电路系统测试问题

[复制链接]
发表于 2023-11-27 16:28:14 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

×
最近看毫米波收发机的论文,经常看到类似这句的话,“The circuits in the array were also characterized using breakouts containing particular blocks (the individual block-level measurements were described in [url=]Section III[/url]). In this section, on-wafer Rx IC measurements are presented."

想问一下using breakouts containing particular blocks是什么意思呢?是在说小模块怎么测试吗?
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐

奖励300信元 | 下载SoC设计技术(视频+PDF资料)
奖励300信元 | 下载SoC设计技术(视频+PDF资料)
元 | 下载SoC设计技术(视频+PDF资料) 奖励300信元

查看 »

X

手机版| 小黑屋| 关于我们| 联系我们| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2025-7-27 15:10 , Processed in 0.110907 second(s), 5 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表