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楼主: 沐风彡

[求助] 关于3mm*3mm芯片CDM性能的问题

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发表于 2023-7-18 09:44:36 | 显示全部楼层


   
沐风彡 发表于 2023-7-18 09:28
裸die没法测ESD吧,机台不适配。


所以想问上面那位前辈说的“Die封装前后的CDM pass能力差异是怎么得出结论的”或许他有实测案例
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发表于 2023-7-20 08:28:12 | 显示全部楼层


   
Anihacyo 发表于 2023-7-14 10:14
您好,想请教---关于“封装尺寸越大,CDM pass的电压就越低”,是因为相同的电压下,对大尺寸封装产品的c ...


是的。相同的FI CDM条件,device的pass voltage:Die > packaged chip > chip on board.
有必要校正一个普遍的行业认知误区,FI-CDM条件下,待测device上的静电荷是Field inducing决定的,并不是一般意义上实际的电荷。Field inducing一旦去除,device的静电带电状态就不存在了。从这个技术点出发,在分析不同尺寸在FI-CDM的实测数据,就很容易判断预期的结果是怎样的。
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发表于 2023-7-20 15:47:40 | 显示全部楼层


   
copper_hou 发表于 2023-7-20 08:28
是的。相同的FI CDM条件,device的pass voltage:Die > packaged chip > chip on board.
有必要校正一个 ...


想请教,关于“相同的FI CDM条件,device的pass voltage:Die > packaged chip > chip on board.” 是基于理论分析吗?也许是我经验不足,我印象里 裸die是不太能测CDM的
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发表于 2023-9-22 18:19:13 | 显示全部楼层


   
Anihacyo 发表于 2023-7-18 09:44
所以想问上面那位前辈说的“Die封装前后的CDM pass能力差异是怎么得出结论的”或许他有实测案例
...


楼上前辈说的应该是同一批次chip 封装尺寸不同,CDM pass level 有差异。
以目前主流的 Thermo fisher的测试机来说,我之前做过验证,相同chip 封装成LQFP100和LQFP176 设备可以测量等效电容值,LQFO176 明显比100的大



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发表于 2023-9-28 08:04:47 | 显示全部楼层


   
yian0321 发表于 2023-9-22 18:19
楼上前辈说的应该是同一批次chip 封装尺寸不同,CDM pass level 有差异。
以目前主流的 Thermo fisher的 ...


等效电容指的是单chip还是说和机台一起耦合出来的总的cap?
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发表于 2025-3-31 16:58:44 | 显示全部楼层
感谢分享
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