ATPG中到底什么是parallel pattern,serial pattern 和scan test pattern

绅士呵呵

   

sywang33 发表于 2020-7-25 21:24
chain serial test 可以用來測試 scan shift的動作是否正確 ... 如果確了 那問題應該是出現在scan capture
...

大佬，我serial 仿真没有fail，但是，dump下来的vcd文件scanout端口出现一些x态，查看波形都是在SE为1时，也就是shift阶段。并行仿真完全没有问题，仿真没有fail，波形也没有x态。这是什么原因呢？

bobo74123

谢谢解答

coolwind1988

正在调试

zhiwenhao

parallel只能在软件上仿真，加速仿真用的，不能实际使用。serial是可以ATE上用的。