ATPG中到底什么是parallel pattern,serial pattern 和scan test pattern

绅士呵呵

   

sywang33 发表于 2020-7-25 21:24
chain serial test 可以用來測試 scan shift的動作是否正確 ... 如果確了 那問題應該是出現在scan capture
...

大佬，我serial 仿真没有fail，但是，dump下来的vcd文件scanout端口出现一些x态，查看波形都是在SE为1时，也就是shift阶段。并行仿真完全没有问题，仿真没有fail，波形也没有x态。这是什么原因呢？

bobo74123

谢谢解答

coolwind1988

正在调试

zhiwenhao

parallel只能在软件上仿真，加速仿真用的，不能实际使用。serial是可以ATE上用的。

jchhg

write_pattern command中有详细的解释，pattern分为chain pattern和scan pattern（当然还有其他类型，如loopback）。chain pattern只会有shift 动作来验证chain是否通畅，scan pattern分为parallel/serial 两类pattern；serial是在port进行灌值，有完整的shift和capture过程，但是parallel 利用工具的强大直接在SFF的SI force想要的值 再进行capture（在parallel 仿真波形中可以明显看到仿真工具的force行为）。一般而言，serial pattern在写出来用于仿真的时候只会让工具filter 几支出来仿真，parallel 会把所有pattern全部写出来仿真。

jinfeier

   

jchhg 发表于 2025-5-9 10:50
write_pattern command中有详细的解释，pattern分为chain pattern和scan pattern（当然还有其他类型，如loo ...

serial pattern仿真很慢吗，如果仿真所有serial pattern 验证无误，是否证明pattern 没有fail