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creese

发表于 2010-12-7 10:15:56 | 显示全部楼层 |阅读模式

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请问哪位有the testability features of the 3rd generation coldfire family of microprocessors一文，能否上传一下？这篇文章是讲at-speed测试设计的，我急需这篇文章，多谢了！或者有其他与at-speed测试设计有关的文章也可以，再次感谢！

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